基于ATE的快充芯片测试系统设计与Trim技术优化研究.docxVIP

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2025-11-21 发布于上海
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基于ATE的快充芯片测试系统设计与Trim技术优化研究

一、引言

1.1研究背景与意义

随着科技的飞速发展，各类电子设备如智能手机、平板电脑、笔记本电脑等已成为人们生活和工作中不可或缺的工具。人们对这些电子设备的续航能力和充电速度提出了越来越高的要求，快充技术应运而生。快充技术能够在短时间内为电子设备补充大量电量，大大提高了用户的使用便利性，受到了消费者的广泛青睐。在新能源汽车领域，快充技术的应用可以显著缩短充电时间，提升电动汽车的使用体验，有助于推动新能源汽车的普及。快充技术的发展离不开快充芯片的支持，快充芯片作为快充技术的核心部件，其性能直接影响着快充的效率和安全性。随着市场对快充技术需