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STS8200

编程手册

（Rev1.30）

目录

目录2

1系统函数8

1.1测试程序框架函数8

1.1.1HardWareCfg()9

1.1.2InitBeforeTestFlow()9

1.1.3InitAfterTestFlow()9

1.1.4UserInit()9

1.1.5UserLoad()9

1.1.6UserExit()10

1.1.7OnSot()10

1.1.8SetupFailSite()10

1.1.9BinOutDut()10

1.1.10OnNewLot()11

1.1.11OnWaferEnd()11

1.2全局函数11

1.2.1BEGIN_SINGLE_SITE()11

1.2.2END_SINGLE_SITE()12

1.2.3delay_ms()12

1.2.4delay_us()13

1.2.5STSTestifyHDExist()13

1.2.6STSEnableCfgCheck()14

1.2.7全局函数old15

1.2.8全局函数new26

1.3测试参数相关函数38

1.3.1SetTestResult()38

1.3.2GetTestResult()39

1.3.3SetResultRemark()40

1.3.4GetResultRemark()41

1.3.5GetMinLimit()42

1.3.6GetMaxLimit()43

1.3.7GetSubUnitsCount()43

1.3.8GetDispFormat()44

1.3.9GetDescription()44

1.3.10GetConditionsCnt()45

1.3.11GetConditionDispName()45

1.3.12GetConditionSymbol()46

1.3.13GetConditionShowKind()47

1.3.14GetConditionInputKind()48

1.3.15GetConditionDispValue()49

1.3.16GetConditionDispUnit()50

1.3.17GetTestConditionValue()51

1.3.18GetConditionCurSelDouble()52

1.3.19GetConditionValueSelOrder()53

1.3.20GetConditionSelectUnit()54

1.3.21GetConditionUnitSelOrder()55

1.3.22GetConditionDispTip()56

1.4应用举例57

1.4.1程序中定义QA起始函数57

1.4.2程序中设置DIE坐标60

1.4.3得到Lot信息页面63

1.4.4程序中控制FailStop65

1.4.5程序中控制SingleTestDataNotSave68

1.4.6程序中设置对话框以及设置储存文件名71

2DVI40075

2.1DVI400()75

2.2SET()76

2.3SETCLAMP()77

2.4MEASURE