基于电磁探测成像系统的辐射干扰源定位关键技术研究.pdf

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摘要

摘要

随着电子设备的不断增加,造成了空间电磁环境越来越复杂,电子设备之间

因为电磁干扰而性能下降甚至是无法正常工作。传统的电磁干扰探测方法是利

用天线和接收机进行逐点测量,获取空间中信号的频率、幅度、极化等电磁信息。

这种测量方式不但很难获取全方位信息,而且耗时长、效率低、实时性差。电磁

探测成像系统能够对电磁干扰源进行快速的识别及定位,且具有范围大、频带宽

和动态实时性等优点。但是由于成像系统成像频段低且成像反射

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