LaAlO₃_GaAs异质结界面电学性能:机理、测试与应用探索.docx

LaAlO₃_GaAs异质结界面电学性能:机理、测试与应用探索.docx

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

LaAlO?/GaAs异质结界面电学性能:机理、测试与应用探索

一、引言

1.1研究背景与意义

在半导体领域中,异质结作为一种由两种或两种以上不同半导体材料构成的界面结构,扮演着极为关键的角色,对半导体器件的性能和特性产生着深远影响,是推动半导体技术发展的核心要素之一。自异质结概念提出以来,其在理论研究与实际应用方面均取得了重大突破,成为现代半导体器件不可或缺的基础组成部分。

从理论层面来看,异质结的独特之处在于其界面处能带结构的变化,这种变化导致了电子和空穴在界面处的分离,进而形成内建电场。内建电场的存在使得异质结具备了诸多传统同质结所不具备的特性,如载流子的有效限制、能带工程的可实现性等

您可能关注的文档

文档评论(0)

1234554321 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档