TEM制样技术经典课件.pptVIP

TEM制样技术;透射电镜制样用工具类;当样品放在电镜中观察时，“载网支持膜”在电子束照射下，会产生电荷积累，引起样品放电，从而发生样品飘移、跳动、支持膜破裂等情况。所以，人们考虑在支持膜上喷碳，提高支持膜的导电性，达到良好的观察效果。这种经过“喷碳的载网支持膜”，简称“碳支持膜”，一般膜厚度为7-10nm。?碳支持膜是以有机层为主，膜层较薄，背底一般影响很小。通常用水或乙醇分散样品，支持膜均不会受腐蚀。载网材料有镍网和钼网两种；如果您的样品属于磁性粉末样品可以使用两种方法：1.树脂包埋，超薄切片；2.可以使用双联网碳支持膜。;?超薄碳膜，也是支持膜的一种，是在微栅的基础上，叠加了一层很薄的碳膜，一般为3-5nm。这层超薄碳膜的目的，是用薄碳膜把微孔挡住。这主要是针对那些分散性很好的纳米材料，如：10nm以下的样品，分散性极好，如果用微栅就有可能从微孔中漏出，如果在微栅孔边缘，由于膜厚可能会影响观察。所以，用超薄碳膜，就会得到很好的效果;载网（铜网、镍网、金网、钼网）;环类（单孔环、椭圆环）;三、透射电镜样品的制备;1.样品要足够薄(100-10nm)

2.提供需要观察的、有代表性的视场

3.不能改变样品的结构与成分

（如机械损伤、化学反应、组织转变）

4.满足真空环境的要求、具一定导电性、可经受电子束的辐照等

;1、粉末样品的制备—分三类;2、平面样品的制备;凹坑仪;离子减薄仪;可用于几乎所有样品的制备（但要注意离子损伤倾向和热效应）;电解双喷;JCP200磁控溅射镀膜仪;;;谢谢大家！