集成电路芯片测试与可靠性分析.pdf

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集成电路芯片测试与可靠性分析集成电路芯片测试与可靠性分析

引言

测试方法

静态测试是通过检查芯片的结构、连接和物理参数等方面来判断芯片

是否存在缺陷。这种测试方法通常使用显微镜、扫描电镜和电子探针等仪

器进行。静态测试可以有效地检测到芯片的制造缺陷,如短路、漏电和误

连等问题。

动态测试是通过对芯片施加输入信号,观察芯片输出是否符合预期来

判断芯片是否正常工作。常用的动态测试方法有功能测试、时序测试和环

境测试等。功能测试是测试芯片的功能是否满足设计要求,通常使用模拟

电源和信号发生器等仪器进行。时

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至若春和景明,波澜不惊,上下天光,一碧万顷,沙鸥翔集,锦鳞游泳,岸芷汀兰,郁郁青青。

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