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基于JTAg-IEEE1500的可测性设计与ATE功能测试向量快速生成研究.docx

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    基于JTAg-IEEE1500的可测性设计与ATE功能测试向量快速生成研究

    一、引言

    1.1研究背景与意义

    在现代电子技术领域，集成电路（IntegratedCircuit，IC）无疑占据着核心地位，其发展水平已然成为衡量一个国家科技实力和工业现代化程度的关键标志。自20世纪中叶集成电路诞生以来，历经半个多世纪的迅猛发展，其集成度呈指数级增长，从最初的小规模集成电路逐步演进至如今的超大规模和甚大规模集成电路。这种飞速发展使得芯片能够集成数以亿计的晶体管，实现愈发复杂和强大的功能，广泛应用于通信、计算机、消费电子、汽车电子、航空航天等众多领域，深刻改变了人们的生活和工作方式。

    然而，随着

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