基于光学相干断层扫描技术的非侵入式LED结温测量：原理、方法与应用研究.docx

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2025-10-15 发布于上海
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基于光学相干断层扫描技术的非侵入式LED结温测量：原理、方法与应用研究

一、引言

1.1研究背景与意义

随着半导体技术的飞速发展，发光二极管（LED）以其高效节能、长寿命、体积小、响应速度快等显著优势，在照明、显示、汽车、医疗等众多领域得到了广泛应用，逐渐成为现代光电子产业的重要支柱。在LED的实际应用中，结温是影响其性能和可靠性的关键因素。当LED工作时，由于内部的电-光转换效率并非100%，部分电能会转化为热能，导致芯片的结温升高。过高的结温会引发一系列问题，如发光效率降低、发光波长漂移、颜色一致性变差、寿命缩短等。研究表明，结温每升高10℃，LED的光通量可能会下降