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XRD考试题库及答案

单项选择题（每题2分，共10题）

1.XRD主要用于分析材料的什么？

A.化学成分

B.晶体结构

C.表面形貌

D.力学性能

2.以下哪种不是XRD常用的靶材？

A.Cu

B.Fe

C.Al

D.Mo

3.XRD图谱中峰的位置反映什么？

A.晶体类型

B.晶面间距

C.晶粒大小

D.材料密度

4.布拉格方程中2θ代表什么？

A.入射角

B.反射角

C.衍射角

D.折射角

5.提高XRD分辨率可采取什么措施？

A.增大管电压

B.减小狭缝宽度

C.增加扫描速度

D.更换探测器

6.XRD分析时样品需满足什么条件？

A.块状

B.粉末状

C.任意形状

D.规则形状

7.以下哪种晶系对称性最高？

A.立方晶系

B.四方晶系

C.正交晶系

D.单斜晶系

8.XRD图谱中峰的强度与什么有关？

A.原子序数

B.晶面指数

C.晶体结构

D.以上都有关

9.进行XRD分析时，扫描范围通常是？

A.0-10°

B.10-60°

C.60-90°

D.90-180°

10.以下哪种方法可用于XRD定量分析？

A.外标法

B.内标法

C.无标样法

D.以上都是

答案：1.B2.C3.B4.C5.B6.B7.A8.D9.B10.D

多项选择题（每题2分，共10题）

1.XRD可用于哪些领域？

A.材料科学

B.矿物学

C.生物学

D.化学工程

2.影响XRD峰宽的因素有？

A.仪器分辨率

B.样品结晶度

C.晶粒大小

D.扫描速度

3.以下哪些是XRD的探测器？

A.闪烁计数器

B.半导体探测器

C.正比计数器

D.光电倍增管

4.XRD分析中常用的辐射源有？

A.X射线管

B.同步辐射光源

C.中子源

D.激光源

5.晶体结构的基本要素包括？

A.晶胞

B.点阵

C.空间群

D.原子坐标

6.XRD图谱处理软件可进行哪些操作？

A.平滑

B.寻峰

C.扣除背景

D.计算晶面间距

7.不同晶系的晶体在XRD图谱上有哪些特点？

A.峰的数目不同

B.峰的位置不同

C.峰的强度不同

D.峰的对称性不同

8.XRD样品制备的方法有？

A.压片法

B.涂片法

C.粉末法

D.块状法

9.XRD图谱中背底产生的原因有？

A.样品吸收

B.空气散射

C.仪器噪声

D.样品不纯

10.利用XRD可进行哪些材料性能研究？

A.晶体结构鉴定

B.应力分析

C.织构分析

D.相分析

答案：1.ABCD2.ABC3.ABC4.AB5.ABCD6.ABCD7.ABCD8.ABCD9.ABC10.ABCD

判断题（每题2分，共10题）

1.XRD只能分析晶体材料。（）

2.布拉格方程是XRD的理论基础。（）

3.XRD图谱中峰的半高宽越大，晶体结晶度越高。（）

4.不同靶材产生的X射线波长相同。（）

5.样品颗粒大小对XRD图谱没有影响。（）

6.XRD分析时扫描速度越快越好。（）

7.立方晶系的晶体在XRD图谱上峰的对称性最高。（）

8.内标法可消除样品制备过程中的误差。（）

9.XRD图谱中背底强度与样品无关。（）

10.利用XRD可准确分析材料的化学成分。（）

答案：1.√2.√3.×4.×5.×6.×7.√8.√9.×10.×

简答题（总4题，每题5分）

1.简述XRD分析晶体结构的基本原理。

利用X射线与晶体中原子相互作用产生衍射现象，通过布拉格方程计算晶面间距等参数来确定晶体结构。

2.说明提高XRD分辨率的方法及原理。

减小狭缝宽度，原理是限制X射线发散角度，使衍射峰变窄，提高分辨率。

3.简述XRD定量分析的常用方法。

外标法、内标法、无标样法等，通过比较峰强度等参数确定各相含量。

4.分析XRD图谱中峰宽与晶体结晶度的关系。

峰宽越窄，晶体结晶度越高；峰宽越宽，晶体结晶度越低，因为结晶度影响衍射峰的尖锐程度。

讨论题（总4题，每题5分）

1.讨论不同晶系在XRD图谱上的特征差异及应用。

立方晶系对称性高，峰简单易识别；四方晶系等有其独特峰位和强度特征。可用于材料晶体结构鉴定和区分不同材料。

2.谈谈XRD在材料研发中的重要作用。

可确定材料晶体结构，指导新材料合成；分析相组成，评估材料质量；监测材料相变等，推动材料性能优化。

3.讨论XRD分析中样品制备对结果