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基于状态相关和幂次数划分的SoC测试数据压缩方法的深度探索与应用.docx

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    基于状态相关和幂次数划分的SoC测试数据压缩方法的深度探索与应用

    一、引言

    1.1研究背景与意义

    在当今信息技术飞速发展的时代，集成电路技术持续取得重大突破，系统级芯片（System-on-Chip，SoC）应运而生，并迅速成为现代电子系统的核心。SoC通过将多个功能模块，如处理器、存储器、各种接口电路等集成在单一芯片上，极大地提升了系统的性能、降低了功耗和成本，同时缩小了物理尺寸。这种高度集成化的特性使得SoC在消费电子、汽车电子、工业控制、通信等众多领域得到了广泛应用，从智能手机、平板电脑到自动驾驶汽车，从智能家居设备到高性能计算系统，SoC都发挥着不可或缺的关键作用。

    然而，

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