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多层薄膜椭偏数据反演算法：原理、应用与优化.docx

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    多层薄膜椭偏数据反演算法：原理、应用与优化

    一、引言

    1.1研究背景与意义

    在现代材料科学与半导体技术迅猛发展的浪潮中，薄膜材料因其独特的物理性质和广泛的应用领域，成为了众多科研与工业领域的研究焦点。从半导体器件中的关键薄膜层，如高k/金属栅极（HKMG）薄膜堆栈，到光学领域的各种功能性薄膜，薄膜的精确表征对于提升器件性能、推动技术进步至关重要。在众多薄膜表征技术中，椭圆偏振测量技术凭借其非接触性、高精度以及能同时测定薄膜厚度和光学常数等显著优势，在半导体制造、光学镀膜、材料研究等领域得到了广泛应用。

    椭圆偏振测量技术通过测量偏振光在薄膜表面反射（或透射）前后偏振态的变化，获取薄膜的相

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