《轨道交通信号系统集成电路可靠性测试指南（征求意见稿）》.docxVIP

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轨道交通信号系统集成电路可靠性测试指南

1范围

本文件提出了轨道交通信号系统集成电路可靠性检测的总体原则、检测项目和测试报告中提供的信息的建议。

本文件适用于轨道交通信号系统集成电路的可靠性检测。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

GB/T4937.13半导体器件机械和气候试验方法第13部分：盐雾

GJB548微电子器件实验方法和程序

YD/T1690.2电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(150kHz-1GHz)第2部分：辐射发射测量TEM小室和宽带TEM小室方法

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

可靠性试验reliabilitytest

对产品可靠性量度或性质进行测量、定量或分类所实施的试验。

注1:可靠性试验不同于环境试验，环境试验的目的是证明产品能经受得住在存储、运输和使用中极端环境的试验。

注2:可靠性试验可包括环境试验。

[来源：GB/T5080.1-2012,3.1.26]

3.2

静电放电ElectrostaticDischarge

具有不同静电电位的物体相互靠近或直接接触引起的电荷转移。

[来源：GB/T4365-2024,3.1.22]

3.3

人体模型静电放电HumanBodyModelElectrostaticDischarge

一种静电放电应力模型，模拟典型人体指尖的放电事件。

3.4

带电器件模型静电放电ChargedDeviceModelElectrostaticDischarge

一种静电放电应力模型，模拟带电元件通过引脚快速放电到另一个静电电位不同的物体时发生的放电事件。

3.5

闩锁效应Latch-up

由于过应力触发寄生晶闸管结构而产生的低阻抗通路，在触发条件移除或停止后仍持续存在。

注1:过应力可以是电压或电流浪涌、电流或电压变化率过大或任何其他导致寄生晶闸管结构再生的异常情况。

注2:只要通过低阻抗通路的电流在幅度或持续时间上有足够的限制，闩锁不会损坏器件。

3.6

电磁兼容ElectromagneticCompatibility

设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。[来源：GB/T4365-2024,定义3.1.7]

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4缩略语

下列缩略语适用于本文件。

AC:高压蒸煮(Autoclave)

bHAST:高加速温湿度偏压应力测试(HighlyAcceleratedTemperatureandHumidityStressTest)

BST:凸点剪切测试(BumpShearTest)

CA:恒定加速度(ConstantAcceleration)

CDM:带电器件模型静电放电(ChargedDeviceModelElectrostaticDischarge)

DS:芯片剪切(DieShear)

EDR:非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命(NVMEndurance,DataRetention,andOperationalLife)

ELFR:早期寿命失效率(EarlyLifeFailureRate)

FT:最终测试(FinalTest)

GFL:粗/细气漏(Gross/FineLeak)

HBMESD:人体模型静电放电(HumanBodyModelElectrostaticDischarge)

HTDR:高温数据保持性(HighTemperatureDataRetention)

HTOL:高温工作寿命(HighTemperatureOperatingLife)

HTSL:高温存储寿命(HighTemperatureStorageLife)

IC:集成电路(IntegratedCircuits)

IWV:内部水汽含量(InternalWaterVapor)

LF:无铅(LeadPbFree)

LI:引脚完整性(LeadIntegrity)

LT:盖板扭矩(LidTorque)

LTOL: