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EFlash测试方法的深度剖析与创新实践：设计、实现与应用.docx

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    EFlash测试方法的深度剖析与创新实践：设计、实现与应用

    一、引言

    1.1研究背景与意义

    在当今数字化时代，芯片作为各种电子设备的核心组件，其性能和可靠性直接影响着设备的整体表现。从智能手机、平板电脑到汽车电子、工业控制系统，芯片无处不在，扮演着至关重要的角色。而EFlash（嵌入式闪存）作为芯片中的关键存储部件，承担着存储程序代码、配置数据以及用户信息等重要任务，其性能和可靠性对芯片的正常运行起着决定性作用。

    EFlash具有非易失性的特点，这意味着在断电后，其存储的数据不会丢失。这种特性使得EFlash在各种需要长期保存数据的应用场景中得到了广泛应用。在微控制器（MCU）中，E

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