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2025-07-21 发布于北京
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WaveWizard:AnEDAtoTesterATPGToolWaveWizardprovidesalinkbetweendesignandtestingbyTestInsightItusesdesignsimulationdatatogeneratetestprogramsFunctionalSimulationData:VCD(ValueChangeDump) EVCD(ExtendedVCD)StructuralSimulationData:STIL(StandardTestInterfaceLanguage,a.k.a.IEEE-1450)WGL(WaveformGenerationLanguage)ItgeneratesdigitaltestprogramonTeradynePlatforms(J97x/Catalyst/A5xx/J750/Tiger/Flex)

CyclizerSampler.wgl.stilJ971/J973

Generator.vecfile.samfileA5/Catalyst/TigerGeneratorIntegraFlex/J750

GeneratorWaveWizardCyclization:DividingdesignsimulationintotestercyclesDefiningthesignaltransitiontimingandstatesNotrequiredfor.wgland.stilfiles,sincetheyhavealreadybeendividedintotimesetsSampling:determiningtheappropriatewaveformsampledataNotrequiredfor.wgland.stilfilesProgramFileGeneration:TesterpinsandchannelsLevelsTimingedgesandvariablesDataformatsPatternvectordataTestflowEDAtoTesterATPGConversion.vcd.evcd

Device-Basedvs.TraditionalMethodCyclizationcanbeachievedusingtheTechnicalwayortheIntuitiveway.TheIntuitiveway:Usedevicepredefinedspec.Useminimalsetofcycletypes.

Device-BasedConceptCyclizationConverteventbaseddata(.vcd,.evcd)intoATEcompliancecyclebaseddataIdentifyrepeatingcycles.

TesterCycleDeviceCycleDescribeDeviceCyclesinWaveWizard:UsetheDiagramEditortoolDiagramsrepresentadeviceportbehaviorIncludeatimingspecEDAtoTesterATPGConversionProcess

Device-BasedConceptUsedevicetimingdatasheetasasetofcyclizationrules.

WaveWizardConceptWhyusedeviceaspec?AccuratetestMaskfalsefailuresShorterdebugCharacterization

TraditionalConversionTools

CreatesCyclestheTechnicalWayTset1Tset2Tset1Tset1clkinclkoutDatadata.dirInputDataOutputDataTset1clkinrzd0,d1=0nsd2=5nsclkoutnrzr1=5.5nsDatanrzd0,d1=0nsr1=8nsTset2clkin