散斑相关性调制：解锁散斑干涉测量技术的精度与应用潜能.docx

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2025-07-18 发布于上海
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散斑相关性调制：解锁散斑干涉测量技术的精度与应用潜能

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科学与工程技术领域，对物体表面的位移、形变、振动等物理量的精确测量始终是研究的关键与热点。光学测量技术凭借其高精度、非接触、全场测量等显著优势，在众多领域发挥着不可替代的重要作用。散斑干涉测量技术作为光学测量领域的重要分支，自20世纪60年代后期随着散斑计量学的诞生而逐步发展起来，已成为获取物体表面信息的有力工具。

散斑，这一在激光照射到物体表面时形成的颗粒状随机图样，最初被视为全息技术中的干扰因素。但随着研究的深入，其携带被测物体信息的特性被发现，从而开启了散斑计量学的新篇章。散斑干涉测量