T/CIE 145-2022辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测试方法.pdf

ICS31.080.01

CCSL40

团体标准

/—

TCIE1452022

辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测试方法

Measurementmethodofradiationinducedtrasb

py

deeleveltransientsectrosco

pppy

2022-12-31发布2023-01-31实施

中国电子学会发布

中国标准出版社出版

/—

TCIE1452022

目次

前言…………………………Ⅰ

引言…………………………Ⅱ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4一般要求…………………2

4.1测试人员……………2

4.2仪器与设备…………………………2

4.3测试环境……………3

5测试方法…………………3

5.1测试目的……………3

5.2测试计划……………3

5.3被测样品……………3

5.4测试程序……………3

5.5数据处理……………4

6测试报告…………………4

()………………

附录资料性基于深能级瞬态谱的缺陷测试原理和数据处理方法

A5

()……………

附录资料性辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测试示例

B8

()………

附录资料性基于深能级瞬态谱