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界面与能带结构：解锁电荷俘获型器件存储性能的关键密码

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化信息飞速发展的时代，数据存储技术扮演着至关重要的角色，其性能的优劣直接影响着各类电子设备的功能与效率。从我们日常使用的智能手机、平板电脑，到企业级的数据中心，再到超级计算机的海量数据存储，数据存储技术无处不在，并且对其存储密度、读写速度、功耗以及可靠性等方面提出了越来越高的要求。

电荷俘获型器件作为非易失性存储器的重要一员，在现代存储领域占据着举足轻重的地位。相较于传统的浮栅型存储器，电荷俘获型器件展现出诸多显著优势。在尺寸缩小方面，当微电子技术节点不断推进，传统浮栅结构在45nm、32nm