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MSP430F5系列16位超低功耗单片机模块原理

第11章CRC循环冗余校验模块

版本:1.0

日期:2008.6.

原文:TIslau208.pdf(5xxfamilyUsersGuide)

翻译:理工大学

编辑:DC微控技术版主

注：以下文章是翻译TIslau208.pdf文件中的部分内容。由于我们翻译水平有限，有整理过

程中难免有所不足或错误；所以以下内容只供参考.一切以原文为准。

文章更新密切留意微控技术。

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第11章RAM控制器

CRC模块是用于进行循环冗余校验的模块。

11.1CRC模块介绍

CRC模块为数据总线上已有的数据提供校验签名。签名来自于数据的第0，4，11和15位。CRC

16125

签名是基于CRC-CCITT标准的计算的。计算为f(x)X+X+X+1.

图11-1基于CRC-CCITT标准的结构图第0位是最

在CRC以固定值初始化后，当相同的总线数据产生相同的校验结果，不同的数据产生不同的

校验结果。

11.2CRC签名产生

CRC签名产生器通过向寄存器CRCINIRES写入16位的控制字来初始化，任何需要校验的数

据需要写入CRC数据输入寄存器（CRCDI），写入的数据必须按照相同的顺序写入。实际的校验

结果可以从寄存器CRCINIRES读出，用来和先前预设的校验结果相比较。

这种校验产生描述了一种如何计算校验的方法。有关校验的计算是基于一种外部的工具。

存在在产品的内存中的校验结果用来判断CRC校验计算是否正确。

11.2.1CRC执行过程

为了能并行处理CRC校验，线性反馈移位寄存器LSFR功能通过异或门执行。这样实现看起

来与LFSR实现当LSB先被移位时后8位数据先被移进是相同的动作，有关校验的计算在对寄存器

CRCINIRES写入数据初始化后开始。软件或者硬件（如DMA）可以把数据送入CRC数据寄存器

(CRCDI)。在数据寄存器中的值会被放入签名和结果寄存器，在下一个读CRCINIRES寄存器操作

时就可以读出，校验结果可以是字或者字节。一个时钟周期可以产生一个字节的数据，两个时

钟周期产生一