EDX720仪器实验报告.pdfVIP

实验报告

EDX全称EnergyDispersiveX-RaySpectrometer，属于X射线荧

光分析仪（XRF)的一种。此仪器配置新型滤光片，Pb、Cd等的灵敏

度比以往机型提高2倍，无需前处理，非破坏性，快速分析（1~5分

钟）；可准确的定性分析，元素测定范围宽：11Na~92U；精确的定量

分析，根据不同元素，可精确到：1.9PPM~3.7PPM;配备全自动开关

的大样品室，适应固体、液体、粉体、光盘、薄膜等各种类型样品的

检测。

实验名称EDX720仪器测样品

实验样品内存卡芯片

仪器介绍能量色散x荧光光谱仪EDX720以独特的产品配置、功能

齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要，

人性化的设计，使测试工作更加轻松完成性能特点可自动切换准直

器和滤光片专业RoHS检测内置信噪比增强器，可有效提高仪器信

号处理能力25倍以上智能RoHS软件，专业开发，与仪器相得益彰

任意多个可选择的分析和识别模型多变量非线性回收程序技术指

标测量元素：从硫到铀等75种元素元素含量分析范围：

1ppm-99.99%RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测

限最高达1ppm测量时间：60-300s能量分辨率：150±5eV管压：

5-50kV管流：50-1000μA温度范围：15-30℃电源：交流220V±5V

（建议配置交流净化稳压电源）重量：60kg自动选择滤光片多种

准直器自动自由切换电制冷硅针半导体检测器加强金属元素感度

分析器三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非

线性回归程序任意多个可选择的分析和识别模型一次可同时分析

24个元素标准配置信噪比增强器自动切换准直器和滤光片，分别

针对不同样品独特的光路增强系统，方便用户更好地观察样品测量

RoHS，电镀镀层，全元素分析，一机多用电制冷硅针半导体检测器，

摒弃液氮制冷特别开发测量软件，操作界面十分友好内置高清晰摄

像头，方便用户随时检测样品精准的移动平台，更精确方便地调节

样品位置高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击样品腔尺寸：

605mm×395mm×100mm应用领域电子电器行业，电镀行业、各种

材质，塑胶，木头，玻璃等等物质中的有害元素检测电镀行业检测。

仪器工作原理X射线管发射一次射线到被测样品上，激励被测样品，

样品中的每一种元素会放射出二次X射线，探测系统测量这些放射

出来的二次X射线的能量及数量，仪器软件将探测系统所收集到的

信息转换成样品中各种元素的种类及数量。从物理化学的角度阐述其

检测原理：X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特

性通常用能量描述，X射线荧光实际上就是原子内产生变化所致的现

象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。这些核外电子围

绕着原子核按不同轨道运转，它们按不同的能量分布在不同的电子壳

层，分布在同一壳层的电子具有相同的能量，当具有高能量的入射（一

次）X射线与原子发生碰撞时，会打破原子结构的稳定性，处于低能

量电子壳层（如：K层）的电子更容易被激发而从原子中释放出来，

电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这是处于高能量

的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空

位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次

X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有

特定的能量特性。这一过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。工

作原理图示如下：

EDX怎样检测出各元素及其含量呢？

说明：

A）横坐标表示能量差，纵坐标表示元素的浓度

B）浓度越大，峰值越高

C）一般情况下，只用α或β值既能判断出是哪个元素，然后通过峰

值高度计算其含量。

D）一般情况下，Cs以前的元素要用：与K层的能量差值来判断，

如：Ka、Kb值；Ba以后的元素则用：与L层的能量差值来判断，如：

La、Lb值;

E）但是，Pb需要用La、Lb两个值来判断，因为Pb较容易受其