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标题B型企业动态光散射法纳米技术粒度分析仪技术要求一概述本技术要求描述了企业动态光散射法纳米技术粒度分析仪的技术性能和使用规范二适用范围本技术适用于工业级测量和分析三标准性和适用性CIS1704030是国家推荐的标准CCSN51适用于各类场合国家标准GBT44223—2024用于国际间的交流与标准四技术要求1准确度读取粒度数据的准确性必须达到GBT44223—2024中的要求2稳定性分析仪应能在各种条件下稳定工作,保证

ICS17.040.30

CCSN51

中华人民共和国国家标准

GB/T44223—2024

纳米技术动态光散射法

粒度分析仪技术要求

Nanotechnologies—Technicalrequirementsfordynamiclight

scatteringparticlesizeanalyzers

2024-07-24发布2025-02-01实施

国家市场监督管理总局

国家标准化管理委员会发布

GB/T44223—2024

目次

前言Ⅲ

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4工作原理和结构2

5技术要求3

6正常工作条件5

7检验项目和试验方法5

附录A(资料性)粒度标准样品7

附录B(资料性)样品制备方法8

参考文献9

I

GB/T44223—2024

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规

定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国科学院提出。

本文件由全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC279)归口。

本文件起草单位:国家纳米科学中心、中国计量科学研究院、北京市科学技术研究院分析测试研究

所(北京市理化分析测试中心)、珠海真理光学仪器有限公司、丹东百特仪器有限公司、华南师范大

学、济南微纳颗粒仪器股份有限公司、珠海欧美克仪器有限公司、合肥鸿蒙标准技术研究院有限公司、

广州特种承压设备检测研究院、上海思百吉仪器系统有限公司、冷能(广东)科技有限公司、中国计量

大学、山东理工大学、北京信立方科技发展股份有限公司、成都精新粉体测试设备有限公司、安泰科技

股份有限公司、安东帕(上海)商贸有限公司、中国合格评定国家认可中心、北京粉体技术协会、中国

颗粒学会。

本文件主要起草人:朱晓阳、高洁、刘俊杰、黄鹭、高原、张福根、董青云、宁辉、韩鹏、任飞、

沈兴志、窦晓亮、尹宗杰、黎小宇、刘斌、于明州、刘伟、牛亚伟、周已欣、李艳萍、宋绪东、肖历、

徐彦、王宁、周素红、韩秀芝。

GB/T44223—2024

纳米技术动态光散射法

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