B∕T 44221-2024 光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法(高清可复制).pdfVIP

ICS17.180.99

CCSL50

中华人民共和国国家标准

GB/T44221—2024

光学系统波前像差的测定

夏克-哈特曼光电测量法

Determinationofwavefrontaberrationinopticalsystems—

Electro-opticalShack-Hartmannmethod

2024-07-24发布2025-02-01实施

国家市场监督管理总局

国家标准化管理委员会发布

GB/T44221—2024

目次

前言Ⅲ

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义

4测量原理及方法2

4.1测量原理2

4.2光学系统波前像差测量方法2

4.3光学零件面形偏差的测量3

5测量条件4

5.1测量环境4

5.2样品4

6设备及装置4

6.1测量仪4

6.2辅助镜头5

7测量步骤

7.1测量前准备5

7.2波前重构方法的选择6

7.3光路对准6

7.4测量与数据的判定6

8测量数据处理6

9测量报告7

附录A(资料性)波前复原方法8

附录B(资料性)Zernike多项式序列11

附录C(资料性)测量报告13

参考文献14

T

GB/T44221—2024

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规

定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国科学院提出。

本文件由全国光测量标准化技术委员会(SAC/TC487)归口。

本文件起草单位：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所、中国科学院光电技术研究所、中国标

准化研究院、中国科学院空天信息创新研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、苏州慧利和

仪器有限责任公司、中国计量科学研究院、长春奥普光电技术股份有限公司、浙江舜宇光学有限公司

成都科奥达光电技术有限公司、苏州一光仪器有限公司、舟山市质量技术监督检测研究院。

本文件主要起草人：史国华、邢利娜、何益、杨金生、蔡建奇、王璞、刘春雨、韩森、洪宝玉、冯长有

包明帝、叶虹、谢桂华、伍开军、沈晨雁、郝华东。

Ⅲ

GB/T44221—2024

光学系统波前像差的测定

夏克-哈特曼光电测量法

1范围

本文件描述了采用夏克