【英语版】国际标准 ISO 11775:2015 EN 表面化学分析 扫描探针显微镜 悬臂法向弹簧常数的测定 Surface chemical analysis — Scanning-probe microscopy — Determination of cantilever normal spring constants.pdf

ISO11775:2015ENSurfacechemicalanalysis—Scanning-probemicroscopy—Determinationofcantilevernormalspringconstants是一套关于表面化学分析的规范，特别是关于扫描探针显微镜（SPM）中悬臂正常弹簧常数的测定方法。

我们需要了解扫描探针显微镜（SPM）的基本原理和工作方式。SPM是一种用于纳米级表面结构和性质的高分辨率显微镜，它通过与样品表面接触并施加微弱力，然后通过检测探针和样品之间的位移变化来获取信息。

在扫描探针显微镜中，悬臂是一个重要的组成部分。它通常由弹性材料制成，可以弯曲和伸展。当探针与样品表面接触时，悬臂会产生一个微小的位移，这个位移可以通过测量探针和样品之间的力来计算。这个力就是我们通常所说的“弹簧常数”，它是描述悬臂弯曲特性的重要参数。

回到ISO11775:2015EN，它提供了具体的步骤和方法来确定扫描探针显微镜中悬臂的正常弹簧常数。这些步骤包括但不限于：选择适当的扫描模式和探针类型，确定悬臂的位置和倾斜角度，测量探针与样品表面的接触力等。这个标准还提供了一些数据分析方法和工具，用于处理实验数据并得到弹簧常数的精确值。

ISO11775:2015EN规定了扫描探针显微镜中悬臂正常弹簧常数的测定方法和过程，这对于理解和研究纳米级表面结构和性质是非常重要的。这些技术被广泛应用于纳米科学、材料科学、生物医学等众多领域。