SJ 21270-2018 微波组件冲击响应谱试验方法.pdf

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中华人民共和国电子行业标准

FL6132SJ21270-2018

微波组件冲击晌应谱试验方法

Themethodformicrowaveassemblyofshockresponsespectrumtest

2018-01甲18发布2018-05一01实施

国家国防科技工业局发布

SJ21270-2018

目lj言

本标准由中国电子科技集团公司提出。

本标准由工业和信息化部电子第四研究院归口。

本标准起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所。

本标准主要起草人：曹田、黄杰、彭浩、

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微波组件冲击晌应谱试验方法

1范围

本标准规定了微波组件冲击响应谱的一般要求、试验条件和试验程序等。

本标准适用于微波组件的冲击响应谱试验。

2规范性引用文件

下列文件中的条芦垣币

可｜用文件，其随后所有的

修改单〈不包含勘迫，，rl:i?l

「帽d达成协议的各方研究

是有可使用这些

标准。

时’别及幅值等方面的要求。

•·d标定，横向灵敏度应不大

于5%。

试验设备应按照相关计盒带”

放，以保证其工作状态。

3.2.2冲击夹真

冲击夹具应保证冲击加速度大小、谱型、方向上不失真或满足容差要求，并传递到样品上。

应尽可能模拟样品实际安装状态。

4试验条件

4.1概述

可根据样品工作环境所测的时间历程数据、相似动态环境测量数据的外推数据、预计数据，或这三

种数据的综合进行统计处理，确定冲击响应谱和冲击有效持续时间。如有测盘数据，可对数据进行统计

1

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分析，获得试验所需的冲击响应谱；如没有测茧数据，可从表1中选取合适的条件，忡击有效持续时间

应符合4.7的要求。

4.2谱线

典型的冲击响应谱谱线如图l所示，横轴为响应谱频率，纵轴为响应加速度。lo为响应谱最低频率，

Ji为拐点频率，h为最高频率，φ为响应i普低频段谱斜卒，α为峰值响应加速度。

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