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实用文档
本科实验报告
实验名称:数字集成电路实验
课程名称:
数字集成电路设计
实验时间:
任课教师:
实验地点:
实验教师:
实验类型:
□原理验证
█综合设计
□自主创新
学生姓名:
学号/班级:
组号:
学院:
信息与电子学院
同组搭档:
无
专业:
成绩:
实验1门级电路的设计仿真
一、实验内容
在CMOS工艺下,利用Virtuoso工具设计非门、两输入、四输入的与非门和或非门,并对其性能进行仿真和分析。
二、实验目的
深入理解与非门、或非门、非门特性,掌握与非门、或非门、非门的设计方法和性能分析方法。
三、实验要求
设计符合下列要求的反相器,两输入的与非门、或非门,四输入的与非门和或非门。
技术指标要求:负载电容为5pF,信号高电平为VDD(1.8V),低电平为GND(0V)。
输入信号的上升时间、下降时间均为200ps,门电路时延1ns。
四、实验结果
1.两输入与非门
1.1两输入与非门的电路图
1.2MOS管子参数表
PM0
PM1
NM0
NM1
w
100u
100u
100u
100u
l
180n
180n
180n
180n
1.3仿真结果及延时
1.4改变nmos管和pmos管宽度的扫描仿真
简单的设PMOS和NMOS的宽度为l,在不改变MOS管沟道长度的情况下,对MOS管的宽度进行扫描。参数l从1u到100u,步进频率为5u进行扫描,并对扫描出的宽度和延迟的曲线进行分析。其中,延迟曲线来源于上1.3仿真中的t1-1、t1-2。
1.4.1扫描仿真结果
1.4.2扫描结果分析
从上图1中可以看出,随着管子宽度的增加,与非门的延时在减少。这是因为增加管子的尺寸可以增加管子的驱动能力,减小开启电阻,而逻辑门的延时与开启电阻一般是成正比的,所以可以通过增加管子尺寸来减小延时。但是这样做也会使逻辑门本身的电容增大,增加上一级的负载,而且本身电容增加,会使输入信号与输出信号产生耦合效应,影响输出电压。
从上图2延迟曲线,可以看出,同样的管子宽度,t1-1比t1-2的延迟大。故对t1-1取点,使其延迟恰好等于要求的最大延迟1ns,可读出此时的管子宽度为14.15u。可近似得出结论,管子宽度大于15u时,可保证延迟小于1ns。
2.两输入或非门
2.1两输入或非门的电路图
2.2MOS管子参数表
PM0
PM1
NM0
NM1
W
100u
100u
100u
100u
L
180n
180n
180n
180n
2.3仿真结果及延时
2.4改变nmos管和pmos管宽度的扫描仿真
简单的设PMOS和NMOS的宽度为l,在不改变MOS管沟道长度的情况下,对MOS管的宽度进行扫描。参数l从1u到100u,步进频率为5u进行扫描,并对扫描出的宽度和延迟的曲线进行分析。其中,延迟曲线来源于上2.3仿真中的t2-1、t2-2。
2.4.1扫描仿真结果
2.4.2扫描结果分析
管子宽度对门电路延迟的影响跟二输入与非门大致相同,即宽长比越大,延迟越小。但从图1还可以看出,MOS管的宽度变化,对输出波形上升沿的影响较大,对于输出的下降沿影响要小许多。
从上图2延迟曲线,可以看出,t2-1和t2-2的延迟相近。故对t2-2取点,使其延迟恰好等于要求的最大延迟1ns,可读出此时的管子宽度为17.5u。可近似得出结论,管子宽度大于17.5u时,可保证延迟小于1ns。
3.四输入或非门
3.1四输入或非门的电路图
3.2四输入或非门MOS管参数
PM0
PM1
PM2
PM3
w
100u
100u
100u
100u
l
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180n
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NM0
NM1
NM2
NM3
w
100u
100u
100u
100u
l
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180n
180n
180n
3.3仿真结果和延时
3.4延迟结果分析
由于四输入与非门的四个输入端造成的延时不同,但最大延时要么出现在离输出最近的端口,要么出现在离输出最远的端口,所以t3-1输入与t3-4输入都符合要求,则延时符合实验要求。t3-4的延迟明显大于其他三个输入端口的延迟。
4四输入与非门
4.1四输入与非门的电路图
4.2MOS管子参数
PM0
PM1
PM2
PM3
w
100u
100u
100u
100u
l
180n
180n
180n
180n
NM0
NM1
NM2
NM3
w
100u
100u
100u
100u
l
180n
180n
180n
180n
4.3仿真结果和延时
4.4延迟结果分析
由于四输入与非门的四个输入端造成的延时不同,但最大延时要么出现在离输出最近的端口,要么出现在离输出最远的端口,所以t4-1输入与t4-4输入都符合要求,则延时符合实验要求。
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