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一种等离子体相位分布的测量方法、测量装置,该等离子体相位分布的测量方法包括:脉冲激光经过待测等离子体,以使脉冲激光的至少部分发生偏折;将经过待测等离子体的脉冲激光进行聚焦;在聚焦后的脉冲激光中,未发生偏折的部分入射至条形滤片的任意一条条形挡带上,发生偏折的部分经条形滤片进行滤波,得到多束滤波激光;对多束滤波激光进行成像,得到测量图像;根据条形滤片的条形通带位置、测量图像中每束滤波激光形成的区域的边界得到聚焦后的脉冲激光中发生偏折的部分在条形滤片上的偏折量分布;根据偏折量分布、偏折量分布与待测等离
(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116997067 A (43)申请公布日 2023.11.03 (21)申请号 202311243057.X (22)申请日 2023.09.26 (71)申请人 中国科学技术大学 地址 2300
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