GB/T 42969-2023元器件位移损伤试验方法.pdf

ICS31.200 CCSL56 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT42969 2023 元器件位移损伤试验方法 Dislacementdamaetestmethodforcom onents p g p 2023-09-07发布 2024-01-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 国家标准化管理委员会 / — GBT42969 2023 前 言 / — 《 : 》 本文件按照 标准化工作导则 第 部分 标准化文件的结构和起草规则 的规定 GBT1.1 2020 1 起草。 。 。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 本文件的发布机构不承担识别专利的责任 本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。 ( / ) 。 本文件由全国半导体器件标准化技术委员会 SACTC78归口 : 、 、 本文件起草单位 中国空间技术研究院 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 西北核技术研 、 、 、 。 究院 中国电子科技集团公司第四十四研究所 中国科学院新疆理化技术研究所 扬州大学 : 、 、 、 、 、 、 、 、 、 、 、 本文件主要起草人 罗磊 于庆奎 唐民 朱恒静 张洪伟 郑春 陈伟 丁李利 汪朝敏 李豫东 文林 薛玉雄。 Ⅰ / — GBT42969 2023 元器件位移损伤试验方法 1 范围 本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。 , ( )、 、 ( )、 本文件适用于光电集成电路和分立器件 如电荷耦合器件 CCD 光电耦合器 图像敏感器 APS , 、 。