GB/T 1555-2023半导体单晶晶向测定方法.pdf

ICS77.040 CCSH21 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT1555 2023 代替 / — GBT1555 2009 半导体单晶晶向测定方法 Testmethodsfordeterminin theorientationofasemiconductivesinlecrstal g g y 2023-08-06发布 2024-03-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 国家标准化管理委员会 / — GBT1555 2023 前 言 / — 《 : 》 本文件按照 标准化工作导则 第 部分 标准化文件的结构和起草规则 的规定 GBT1.1 2020 1 起草。 / — 《 》, / — , 本文件代替 GBT1555 2009半导体单晶晶向测定方法 与 GBT1555 2009相比 除结构调 , : 整和编辑性改动外 主要技术变化如下 ) ( , ); 更改了 射线衍射定向法的适用范围 见第 章 年版的第 章 a X 1 2009 1 ) ( ); 增加了试验条件 见第 章 b 4 ) ( , ); 更改了 射线衍射法定向法的原理 见 年版的第 章 c X 5.12009 4 ) ( ); 增加了样品的要求 见 和 d 5.4 6.4 ) ( , ); 更改了试验数据处理 见 年版的第 章 e 5.62009 14 ) ( ,