GB/T 42848-2023半导体集成电路　直接数字频率合成器测试方法.pdf

ICS31.200 CCSL56 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT42848 2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 — Semiconductorinterratedcircuits g Testmethodofdirectdiitalfreuencsnthesizer g q yy 2023-08-06发布 2023-12-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 国家标准化管理委员会 / — GBT42848 2023 目 次 前言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅲ 1 范围 ……………………………………………………………………………………………………… 1 2 规范性引用文件 ………………………………………………………………………………………… 1 3 术语和定义 ……………………………………………………………………………………………… 1 4 总则 ……………………………………………………………………………………………………… 3 4.1 测试环境 …………………………………………………………………………………………… 3 4.2 测试注意事项 ……………………………………………………………………………………… 3 4.3 相关文件 …………………………………………………………………………………………… 3 5 静态参数 ………………………………………………………………………………………………… 3 5.1 逻辑输入高电平电压VIH ………………………………………………………………………… 3 5.2 逻辑输入低电平电压VIL…………………………………………………………………………… 4 5.3 逻辑输出高电平电压VOH ………………………………………………………………………… 5 5.4 逻辑输出低电平电压VOL ………………………………………………………………………… 6 5.5 逻辑输入高电平电流I …………………………………………………………………………… 7 IH 5.6 逻辑输入低电平电流I …………………………………………………………………………… 8 IL 5.7 增益误差EG ………………………………………………………………………………………… 8 5.8 积分非线性 INL ………………………………………………………………………………… 10 5.9 微分非线性 DNL ………………………………………………………………………………… 11 5.10 满幅输出电流I ………………………………………………………………………………… 12 FS 5.11 输出失调电流I …………………………………………………………………………