一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法.pdfVIP

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2023-08-09 发布于四川
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一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法.pdf

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本发明公开了一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法，属于天线测量技术领域，包括以下步骤：步骤一、在待测天线的辐射近场区，进行平面近场扫描测量，得到一个平面上的待测天线近场幅度和相位数据；步骤二、将天线近场数据变换到天线远场；步骤三：测量扫描探头的增益和方向图；步骤四：将扫描探头的增益和方向图从共同结果中去除，得到待测天线的增益和远场方向图。本发明通过实测数据进行探头影响去嵌入，从共同结果中将探头影响去除，可以大幅度降低探头影响，有效修正增益和方向图测量结果；解决了探头影响的实际评估分析，对于

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116559745 A (43)申请公布日 2023.08.08 (21)申请号 202310383818.5 (22)申请日 2023.04.12 (71)申请人成都飞机工业（集团）有限责任公司