QBT 1912-1993眼镜架金属镀层厚度测试方法--X荧光光谱法.pdf

中华人民共和国行业标准QB/T 1912 --93眼镜架金属镀层厚度测试方法X荧光光谱法1994—01—06 发布1994--08--01 实施中国轻工总会发布 中华人民共和国行业标准眼镜架金属镀层厚度测试方法X荧光光谱法QB/T 1912-931 主题内容与适用范围本标准规定了眼镜架金镀层厚度的非接触式、无损测试方法（X荧光光谱测试法）的測试原理、仪器设备、标准样品、试样、测试程序、测试不确定度及试验报告。本标准适用于定量测试眼镜架金属镀层的厚度。2 术语2. 1 X射线荧光 X ray fluorescent高强度入射的X射线照射在物体上，使被照射物体产生特定能量的二次辐射。其能量特征与被射物的元素组成有关。2.2 辐射强度 intensity of radiation指测试仪显示的辐射计数率，即单位时间探测器接收的辐射的辐射脉数（cps)。2.3 饱和厚度 satuzation thickness在一定条件下，被測材料的荧光辐射强度不再随材料厚度的增加而变化的最小厚度。2. 4 能量色散 Energy dispersion用能量分析器将镀层或基体产生的二次辐射能量分离。波长与其等效能量关系为：(1)XE=1. 2396式中：入——波长．nm；E—能量，kev。3 测试原理以一束强而狭窄的X射线射到镀层与基体上即产生不同能量的X射线荧光。这些荧光具有构成镀层和基体所含的元素特性。当镀层厚度不大于饱和厚度时，其厚度与所产生的X荧光强度有一定关系，即镀层发出的 X荧光强度随镀层厚度的增加而增加；由基体发出的 X荧光强度随镀层厚度的增加而减小。1994—08—01实施中国轻工总会1994-—0106批准1 QB/T 1912-93根据已知镀层厚度的标准样品建立的工作曲线，可测出与标准样品相同成份的试样镀层厚度。镀层的X荧光强度与其厚度之间的关系可用下式表示：I= (I。-1.)(1--μr) 1.(2)式中：I-一X射线荧光强度，cps;X-镀层厚度，μm:μ线吸收系数;I。-背景强度，cps一饱和强度，cps。仪器设备使用的仪器设备由能量色散装置及微处理机组成、如图所示：a一试样台；b一试样；c一准直器：d-X射线开关：e一X射线管；f一滤波器，g一正比计数器h一放大器；i一X射线源，j一多通道分析器；K:控制系统；1-微电脑:m一显示与打印;n一监察器 QB/T1912--935标准样品5.1标准样品的镀层应均匀一致，清洁平整，且与标称值的误差不大于 5%。5.2标准样品的X荧光辐射特性应与待测试样的特性相同。6 试样6.1镀层表面应洁净无腐蚀。6. 2基体厚度应不小于饱和厚度。7测试程序7.1按标准样品建立工作曲线。7.2i试样测试7. 2. 1测试点数及位置测5点：鼻梁正面当中一点，左右正面镜圈下缘各一点，左右正面镜腿各一点。7.2.2保持试样的被测面与试样台相对平行。7.2.3测试距离必须调整到聚焦最清晰为止。7.2.4推直器孔径必须与试样形状和尺寸相匹配。7.2.5测试时间：每点不小于20s。7.3将测试结果填入测试报告。8测试的不确定度测试的不确定度应小于10%。9测试报告测试报告应包括下列内容：a.日期;b.采用或参照的标准编号;℃.使用仪器的名称及型号；d.试样编号;e.测试条件：测试每点时间、准直器孔径、X射线强度、环境温度和湿度，f．测试结果；镀层金属名称、测试位置、测试值；g.测试单位及测试人签名。 QB/T1912-93附加说明：本标准由中国轻工总会质量标准部提出。本标准由中国眼镜标准化中心归口。本标准由中国轻工总会玻璃掂瓷研究所和野尻眼镜有限公司负责起草。本标准主要起草人：钟荣世、张尼尼、张仁康、霍白。4 56--2161 1/20中华人民共和国行业标准眼镜架金属镀层厚度测试方法X荧光光谱法QB/T1912-93*轻工业标准化编辑出版委员会地址：北京朝外光华路12号电话2309邮政编码：100020*内郊资料、不准翻印印数：500册