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X射线荧光分析（X-ray fluorescence XRF）代表最轻元素Li的K系谱线代表超铀元素的K系谱线X-射线荧光分析应用的X-射线波长：0.1 ? 240 ?产生X射线的方法：(a) 用高能电子或其它多种粒子(如质子、氘核、氦核、锂核)轰击一定材料做成的靶；(b) 用初级X射线照射物质可以产生次级荧光X射线；(c) 某些放射性同位素衰变时产生X射线；连续X射线是由某一最短波长开始的包括各种波长的X射线所组成的光谱。这个最短的波长就是短波限（?min）。管电压（热阴极）X射线管剖面示意图连续X射线的特征：(1) 连续X射线的总强度：A－比例常数 i－X光管管电流（A）Z－靶元素的原子序数V－X光管管电压（千伏）I = AiZV2在实际工作中，需要强度较大的连续X射线时，必须采用原子序数较大的重金属靶子（一般为钨），较大的X光管管电流及施加尽可能高的X光管电压。1.24?(2) 连续X射线谱中短波限只与X光管电压有关，而和靶材料无关。 12400?min = V(3) 连续X射线谱中短波限及强度曲线的最大值都随管电压的增大而向短波方向移动。管电压升高后，电子动能变大，因此转化为X射线光量子的能量也变大，所以X射线波长变短，短波限向左移动。由于管电压升高，相应每秒钟内所产生的X射线光量子的数目及每个X射线光量子的平均能量同时增加，所以强度曲线升高，并向左移动。3. 特征X射线Mo K? 0.7107 ?Mo K? 0.6323 ?如果轰击到阳极靶的电子束能量达到一定程度，也就是当加于X射线管的高压增加到一定的临界数值，就可能将靶材料原子内层的电子逐出，当外层电子填充内层所出现的空穴时，便产生几条具有一定波长、强度很大的谱线，叠加到连续X射线上，这些波长短、强度大的谱线的波长与激发它的电子速度无关，只随X光管中靶金属的原子序数而变化，是某种被轰击的金属靶元素的特征，故称特征X射线。特征X射线产生的示意图特征X射线的精细结构这是处于同一电子层上的电子，由于电子的轨道运动和电子自旋运动相互作用而使能级分裂为支能级的结果。j内量子数，j = (l?Ms)Ms为自旋量子数M层(n=3)有5个支能级N层(n=4)有5个支能级特征X射线的特性（1）激发电压要产生特征X射线，加于X光管上的电压必须达到某一临界值，这个临界的电压值即为激发电压。当以eVk能量的电子轰击K层电子，将K层电子激发到无穷远处所作的功为Wk，则有：eVk = Wk = h?k = hc/?kVk = hc/e?k = 12400/?k特征X-射线必须达到激发电压时才能产生（2）特征X射线强度特征X射线的强度是管电流（i）与管电压（V）的函数，对于K系辐射，其关系式为：I (K系辐射强度) = Ci(V-Vk)nC－常数n－常数，其值1.5~1.7i－X光管的管电流(mA)V－X光管的管电压（Kv）Vk－K系激发电压（Kv）特征X射线之间的相对强度取决于电子在各个能级之间的跃迁几率，在K系谱线中，L层上电子跃迁到K层空穴的几率较M层大，因此强度Ik? Ik? 。（3）特征X射线的波长与靶元素的原子序数有关（三）荧光X射线的产生：如果以X射线为激发手段照射样品，样品吸收X射线光量子以后，某内层电子激发为自由电子，当外层电子落入由此产生的空穴时，就会产生次级X射线，这种次级X射线称为X射线荧光。如果外层电子跃入内层空穴中释放能量，经过无辐射跃迁过程，使另一外层电子激发出原子成为自由电子，这种被激发出的电子称为俄歇电子。X-射线荧光及俄歇电子产生的都是二级发射过程X射线穿过物体时强度的减弱大小(dI)与入射的X射线的强度(I)及晶体物质的厚度(dx)成正比，其关系式如下：dI = - ?l I dx线性吸收系数，它是由物质的密度和X射线波长所决定。质量吸收系数：一束平行的X射线穿过截面积为1平方厘米的一克物质时，X射线强度的减弱系数，其单位为厘米2/克。质量吸收系数的优点是与物质的物理状态无关，不论被X射线照射的物质为机械混合、固溶体还是化合物，质量吸收系数总是其组成元素的质量吸收系数的统计权重平均值。对于一定的元素，随着入射X射线波长的增加，质量吸收吸收也增加，但增加到某一界限时，?m突然降低，出现突变，因此我们把各元素?m突变时的波长值，称为该元素的吸收边(限)。?k为K吸收边确定样品所含的元素（X-射线光谱分析）入射的X-射线衍射线入射角晶面21d晶面间距晶面X-射线晶体结构分析计算特征X-射线波长荧光X射线中只包含特征谱线，而没有连续谱线。因为唯有入射X射线的能量稍大于样品原子内层电子的能量，也即入射的X射线的波长略短小于样品原子的吸收边的波长，才能击出样品原子的内层电子，外层电子填充内层的空穴，释放能量，才能产生X射线荧光莫斯莱(Moseley)发现：随着元素