设备测试方法和电子设备.pdfVIP

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2023-07-02 发布于四川
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本申请提供一种设备测试方法和电子设备，涉及终端技术领域。该设备测试方法，包括：测试设备获取测试用例集合。其中，测试用例集合中包括N个测试用例，N为大于1的整数，任一个测试用例中包括的测试目标的数量小于第一阈值，且大于或等于第二阈值。测试设备按照N个测试用例中测试目标的数量由大到小的顺序，测试多个测试样机。由于测试用例包括测试目标的数量小于第一阈值，则输出测试用例对应的测试结果的时长较短。另外，又由于测试用例包括测试目标的数量大于或等于第二阈值。这样，在总的测试目标的数量一定的情况下，可以减少测试

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113722237 B (45)授权公告日 2022.02.08 (21)申请号 202111279334.3 (56)对比文件