一种半监督小样本偏光片瑕疵检测方法、装置及存储介质.pdfVIP

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2023-06-28 发布于四川
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一种半监督小样本偏光片瑕疵检测方法、装置及存储介质.pdf

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本发明涉及一种半监督小样本偏光片瑕疵检测方法、装置及存储介质，方法步骤包括：获取偏光片数据集，所述数据集包括有标签数据与无标签数据；初始化偏光片瑕疵检测网络，使用有标签数据作为初始训练集，训练瑕疵检测网络直至收敛；将无标签数据输入收敛的瑕疵检测网络，根据分类分支输出与置信度阈值扩充训练集；重新初始化偏光片瑕疵检测网络，使用扩充后的训练集训练瑕疵检测网络直至收敛；根据设定的迭代次数重复上两步，得到最终的偏光片瑕疵检测网络；将待检测图像输入瑕疵检测网络，根据分类分支的结果判断是否存在瑕疵。与现有技术

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116342562 A (43)申请公布日 2023.06.27 (21)申请号 202310337976.7 G06N 3/084 (2023.01) (22)申请日 2023.03.