芯片测试方法、装置、控制电路和芯片.pdfVIP

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2023-06-14 发布于四川
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芯片测试方法、装置、控制电路和芯片.pdf

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本申请实施例提供了一种芯片测试方法、装置、控制电路和芯片，芯片包括CAM和控制电路，控制电路包括多个晶体管组，每个晶体管组包括一个第一晶体管和一个第二晶体管；每个第一晶体管的栅极与DSL连接，且每个第一晶体管的另两极分别与所属组内的第二晶体管的一极和DML连接，每两个第二晶体管的栅极分别与一个位存储单元连接，每个第二晶体管的另一极接地；CAM中的ML和控制电路中的DML处于VDD状态；通过DSL，向每个第一晶体管的栅极提供预设时长的VDD信号；基于DML的电平反转结果和CAM锁存的比较结果，确定

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113113075 B (45)授权公告日 2021.08.27 (21)申请号 202110650977.8 (56)对比文件 (22)申请日 2021.06.11