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一种全区域影像测试方法与架构,用于对具有多个待测元件的12英寸晶圆,使用一探针测试装置,探针测试装置由多个测试单元所构成,测试单元数目为64个且呈对称分布,每个测试单元设有一光源单元及一影像撷取卡。在执行测试方法时,其步骤包括由移动平台承载着晶圆移动,晶圆全区域被定义64个测试区,多个测试区呈对称分布,每个测试区内具有多个待测元件;使用探针测试装置,测试探针装置分布着64个测试单元,每个测试单元位置对应测试区,每个测试单元包括一组探针头,探针头位置对应于待测元件;移动平台带动晶圆移动,在探针测试
(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112858870 A (43)申请公布日 2021.05.28 (21)申请号 202011271010.0 (22)申请日 2020.11.13 (30)优先权数据 108142931
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