一种基于调制光热辐射的复合绝缘子老化程度改进检测方法.pdfVIP

下载本文档

1
0
约8.02千字
约 8页
2023-05-30 发布于四川
举报
版权申诉

一种基于调制光热辐射的复合绝缘子老化程度改进检测方法.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明涉及一种基于调制光热辐射的复合绝缘子老化程度改进检测方法，所述方法采用调制光热辐射技术分别测量复合绝缘子表面老化层区域及去除表面老化层后暴露的内部未老化层的热扩散率，利用测量的表面老化层热扩散率与内部未老化层热扩散率的比值判断复合绝缘子的老化程度。本方法克服了不同规格、型号复合绝缘子的初始热扩散率存在差别且缺乏准确数据对采用热扩散特性评估复合绝缘子老化程度检测方法的影响，提高了采用热扩散特性评估复合绝缘子老化程度的检测精度。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112432969 B (45)授权公告日 2022.04.08 (21)申请号 202011227738.3 CN 109406570 A,2019.03.01 (22)