一种改善硫化钨连续膜均匀性的方法.pdfVIP

一种改善硫化钨连续膜均匀性的方法.pdf

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本发明公开了一种改善硫化钨连续膜均匀性的方法。该方法的步骤是:首先采用CVD法在特定衬底表面进行连续硫化钨薄膜的生长。生长结束后将获得的连续膜放入石英舟中,然后将装有连续膜的石英舟放入石英系统中,向系统中通入100‑150sccm的Ar,保持系统压力在5‑10mbar,将系统温度升高至950℃‑1000℃,当系统温度达到设定温度后,向系统内通入5sccm‑10sccm的H2,在氢气气氛下对连续膜进行表面热处理。H2对硫化物的单晶终端能够起到一定的刻蚀作用,能够有效去除连续膜表面存在的小尺寸二次成

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112458430 B (45)授权公告日 2023.03.28 (21)申请号 202011426047.6 (56)对比文件

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