一种微波/毫米波集成电路芯片内部检测装置.pdfVIP

一种微波/毫米波集成电路芯片内部检测装置.pdf

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本发明为一种微波/毫米波集成电路芯片内部检测装置,本发明通过如下技术方案实现:它包括微波/毫米波信号转化模块,将微波/毫米波信号的指定参数转化为可测参数;参考参数编辑模块,用于编辑参考参数;比较模块,通过预留的参考参数与可测参数进行比较,并产生比较结果;判定电路模块,接受比较模块产生的比较结果,结合实际芯片对微波/毫米波电路的性能和功能的需求做出判定,并将最终的结果以数字信号形式或模拟信号形式输出至芯片外。本发明通过将微波/毫米波信号强度(即幅值)转换成直流电平、以及将微波/毫米波的信号频率转换

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112415361 A (43)申请公布日 2021.02.26 (21)申请号 202011101046.4 (22)申请日 2020.10.15 (71)申请人 深圳芯盛思技术有限公司

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