一种用于分析压敏陶瓷缺陷分布的方法及系统.pdfVIP

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2023-05-19 发布于北京
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一种用于分析压敏陶瓷缺陷分布的方法及系统.pdf

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本发明公开了一种用于分析压敏陶瓷缺陷分布的方法及系统，属于压敏陶瓷技术领域。本发明方法，包括：将不同掺杂量或制作工艺的压敏陶瓷冷却至第一设定温度，测量所述压敏陶瓷在设定频率范围内的第一介电响应；加热所述压敏陶瓷至第二设定温度，测量所述压敏陶瓷在设定频率范围内的第二介电响应；根据第一介电响应绘制所述压敏陶瓷在第一设定温度的第一频谱图，根据第二介电响应绘制所述压敏陶瓷在第二设定温度的第二频谱图；提取第一频谱图及第二频谱图中损耗峰两侧曲线的斜率，根据斜率，确定压敏陶瓷的缺陷分布。本发明实现了对压敏陶瓷

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114878644 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202111237735.2 G01N 27/24 (2006.01)