一种存储器的测试方法、装置及存储器系统.pdfVIP

下载本文档

0
0
约2.26万字
约 21页
2023-05-16 发布于四川
举报
版权申诉

一种存储器的测试方法、装置及存储器系统.pdf

1、本文档共21页，其中可免费阅读20页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本申请实施例公开了一种存储器的测试方法、装置及存储器系统，所述方法包括：在噪声环境下对存储单元执行写入操作和读取操作；所述写入操作包括将测试数据写入所述存储单元中；将执行所述读取操作得到的读取结果和所述测试数据进行比较，得到所述存储单元在噪声影响下的信号裕度测试结果；所述噪声环境中的噪声至少包括以下之一：电源电压噪声、写恢复时间噪声、存储单元漏电噪声。本申请通过噪声环境的设置，使存在潜在信号裕度不足缺陷的存储单元在测试过程中被准确地检测出来，提高了信号裕度测试的覆盖率。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114783499 A (43)申请公布日 2022.07.22 (21)申请号 202210374029.0 (22)申请日 2022.04.11 (71)申请人长鑫存储技术有限公司地址 230