一种多工位FT芯片测试系统及方法.pdfVIP

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2023-05-15 发布于四川
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一种多工位FT芯片测试系统及方法.pdf

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本发明提供一种多工位FT芯片测试系统及方法，包括控制处理系统COMPUTER、系统总线BUS、ATE设备和多个测试板DUT，控制处理系统COMPUTER连接系统总线BUS，系统总线BUS包括测试站STATION，测试站STATION提供给用户多个64引脚接口，这些接口连接多个测试板DUT，测试站STATION的多个64引脚接口和测试板DUT对应连接形成测试工位，待测芯片在多个测试工位上实现并行测试，单个测试工位芯片测试时间不变，仅需在测试充电截止电压过程中对多个测试工位进行标定，进而避免多工位扫

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114705970 A (43)申请公布日 2022.07.05 (21)申请号 202210330046.4 (22)申请日 2022.03.30 (71)申请人天水华天科技股份有限公司地址 7