用于存储器单元的器件意识测试.pdfVIP

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2023-05-13 发布于北京
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公开了一种用于测试集成电路器件(1)的方法，该方法包括：对集成电路器件(1)进行缺陷建模；基于从缺陷建模获得的信息对集成电路器件(1)进行故障建模；基于从故障建模获得的信息进行测试开发；以及对集成电路器件(1)执行测试。对集成电路器件(1)进行缺陷建模包括：执行对集成电路器件(1)的物理缺陷分析(10)，以提供从与集成电路器件(1)相关联的一组无缺陷技术参数(Tpdf)修改的一组有效技术参数(Tpeff)；以及使用该一组有效技术参数(Tpeff)来执行对集成电路器件(1)的电学建模(11)，以基

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114641826 A (43)申请公布日 2022.06.17 (21)申请号 202080076817.0 (74)专利代理机构北京英赛嘉华知识产权代理