一种基于单像素特征聚类建立集群的液晶屏缺陷检测方法.pdfVIP

下载本文档

3
0
约1.41万字
约 12页
2023-04-24 发布于四川
举报
版权申诉

一种基于单像素特征聚类建立集群的液晶屏缺陷检测方法.pdf

1、本文档共12页，其中可免费阅读11页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明提供了一种基于单像素特征聚类建立集群的液晶屏缺陷检测方法，首先，获取液晶屏RGB三通道图像，还包括S1.获取所述图像各像素点的灰度值及r、g、b通道值，将图像转化为灰度图；S2.对灰度图中的每个像素点进行遍历计算，通过多模态与多尺度的特征提取核，生成每个所述像素点的特征向量；S3.根据所述特征向量聚类的结果以及聚类后集群中的像素点的坐标分布情况以判断液晶屏是否存在缺陷；采用本方法不需要对缺陷样本进行收集，在算法落地应用中更具备开展实施性，且由于参数的规模小，有效的提高缺陷检测算法的效率；另

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 114022415 B (45)授权公告日 2022.06.28 (21)申请号 202111204952.1 G06K 9/62 (2022.01)