使用8051单片机验证和测试单粒子效应的设计【外文翻译】.pdfVIP

毕业设计（论文）外文翻译 题目（外文）：validation and testing of design hardening for single event effects using the 8051 microcontroller 题目（中文）： 使用 8051 单片机验证和测试单粒子效应的设计 一、中文摘要及关键词 摘要 :随着专门抗辐射加固设计的制造加工厂的减少，为了加固设计使用非专用 代工业务的新技术逐步发展起来。在这篇论文中，我们将讨论单粒子效应 （SEE） 在空间环境中的验证方法。课题包括需要测试的类型和设计范围 （即他们是否需 要验证设计库的每个应用程序？）。最后，根据美国航天局的先进微电子研究所 （ IA μE）的CMOS超低功耗辐射容错技术（CULPRiT）设计的8051单片机核心被 评价为相当于两个8051工业用设备的单粒子缓和技术。 索引词 :单粒子效应，加固设计， 微控制器，辐射效应。 二、外文摘要及关键词 ABSTRACT ：With the dearth of dedicated radiation hardened foundries, new and novel techniques are being developed for hardening designs using non-dedicated foundry services. In this paper, we will discuss the implications of validating these methods for the single event effects (SEE) in the space environment. Topics include the types of tests that are required and the design coverage (i.e., design libraries: do they need validating for each application?). Finally, an 8051 microcontroller core from NASA Institute of AdvancedMicroelectronics (IAμE) CMOS Ultra Low Power Radiation Tolerant (CULPRiT)design is evaluated for SEE mitigative techniques against two commercial 8051 devices. KEYWORDS：Single Event Effects, Hardened-By-Design, microcontroller, radiation effects. 三、译文正文 1、导言 美国航天局要在空间辐射环境中最低限度地使用资源条件下，不断努力提 供最好科学方法 [1,2] 。然而，拥有最先进的技术的工业用抗辐射加固微电子 器件，几代产品中都有相对局限性，所以美国航天局的这一任务很有挑战性。本 文所介绍的方法是使用加固微创设计技术的工业代工。这通常称为加固设计 （HBD） 。 这种使用设计程序库和自动化设计工具设计的常规加固设计器件可为美国 宇航局提供一种解决方法，它能及时满足严格的科学性能规格，具有成本低和可 靠性高的特点。 但是，仍然存在一个问题：常规辐射加固器件有许多和/或硅片辐射条件测 试，加固设计的验证需要哪些类型的试验？ 2、加固设计检测设备的考虑 美国的测试技术是要使单个器件通过如ASTM ，JEDEC的，和MIL - STD –883 等的标准和组织的测试。通常情况下使用的是TID （Co-60）和SEE （重离子和/ 或质子）来验证器件。那么，什么是HBD器件所独有的验证呢？ 由于不采用“常规”工业现成（COTS）装置或没有固化的专用集成电路（ASIC）， 加固工艺的器件需要确定如何验证设计程序库而不是设备硬度。也就是说， 有 了测试芯片，我们是不是就可以在未来器件上使用相同的程序库了？ 试想，如果卖主A的设计的新的固化设计程序库可移植性可比卖主B和C的都 好，那么A设计，测试的测试芯片就是可接受的了。9个月后，美国航天局飞行项 目就会使用卖主A的程序库设计了新器件进行组合了。这是否需要完成辐射条件 测试？回答这个问题之前，先看一下其他的问题。 如何完整地测试芯片？所有程序库元素来验证每