SPC统计制程管制培训教材.ppt

1-1-2 子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产 品进行监测的子组频率可以是每班2次，或一小时一次等。 1-1-3 子组数：子组越多，变差越有机会出现。一般为25组，首次使 用管制图选用35 组数据，以便调整。 1-2 建立控制图及记录原始数据 第二十七页，共四十六页。 1-3、计算每个子组的均值（X）和极差R 对每个子组计算： X=（X1+X2+…+Xn）/ n R=Xmax-Xmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?为子组内的每个测量值。n 表示子组 的样本容量 1-4、选择控制图的刻度 4-1 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值。 4-2 刻度选择 ： 第二十八页，共四十六页。 对于X 图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值（X）的最大值与最小值的差的2倍，对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。 1-5、将均值和极差画到控制图上 5-1 X 图和 R 图上的点描好后及时用直线联接，浏览各点是否合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。 5-2 确保所画的X 和R点在纵向是对应的。 注：对于还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明“初始研究”字样。 第二十九页，共四十六页。 2 计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限 。 2-1 计算平均极差（R）及过程均值（X） （K表示子组数量） R=（R1+R2+…+Rk）/ k X =（X1+X2+…+Xk）/ k 2-2 计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均 值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反 映在极差上的子组内的变差的量来决定的 计算公式： UCLx=X + A2R UCLR=D4R LCLx=X - A2R LCLR=D3R 第三十页，共四十六页。 2-3 計算過程能力 Cpk= Min[(Us-X),(X-Ls)]/(3*δw) δw=R / d2 (δw稱為過程標准差） 2-4 計算短期能力指數 Ppk= Min[(Us-X),(X-Ls)]/(3*δo) δo= √[Σ(Xi^2-X^2）/(n-1)] (n=所有數據個數） i=1 n 第三十一页，共四十六页。 2-4 續 計算系數（此處 n 指分組數） 管制圖判讀 第三十二页，共四十六页。 X-R 管制圖舉例 第三十三页，共四十六页。 基礎統計 與 SPC 統計制程管制 第一页，共四十六页。 統計基礎 第二页，共四十六页。 一、統計基本概念 1、特性（屬性）、孌量 物料的本身屬性，可以用某種物理特性來表示 長度 高度 面積 體積 等 （此為計量值） 合格 不合格 通 不通 等 （此為計數值） 第三页，共四十六页。 2、樣本 研究對象 總體 樣本 想要知道、了解的一些東西（趨勢、因果等） 第四页，共四十六页。 3、分配 樣本或總體某特性測量結果之分布情況，一 舨用直方圖、散布圖、趨勢圖、等來表示。 4、正態分配 Normal Distribution -6? -5? -4? -3? -2? -1? 0 1? 2? 3? 4? 5? 6? 一舨為鐘型、且呈中心對稱。因為數據的分布寬度不同，形狀會有集中、扁平狀。 根據統計之極限定律，當樣本數趨向於無窮大時，分配一定為正態分配。 第五页，共四十六页。 5、平均值 一組數據經平均計算后的結果 X =（X1+X2+X2+…Xn) / n 6、極差 一組數據中最大值與最小值之差 R=Max(X1, X1,... Xn)-Min (X1, X1,... Xn) 第六页，共四十六页。 7、變異 特性測量值之間不