CPK 简单介绍分析和总结.pdf

CPK 培训教材 一.Cpk 的定义 某一制程在一定因素与正常管制状态下的质量作业能力. 二.Cpk 的影响因素 制程要因原料,机器设备,人员能力,测量仪器. 制程条件常态分配,统计管制状态. 三.Cpk 的计算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸 Average:测量数据的平均值   2 2 x ( x) /n σ :标准差,其公式为: σ n1 Cpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl) σ :其大小表示测量数据的离散程度, σ 越小表示数据的离散程度越小,反 之则数据的离散程度越大. Cpu:其值表示测量数据偏离上限的程度, Cpu 越大表示测量数据偏离上限 较远; 反之则数据靠近上限. Cpl: 其值表示测量数据偏离下限的程度, Cpl越大表示测量数据偏离下限 较远; 反之则数据靠近下限. 四.Cpk 的等级 A: 1.33 ≦Cpk A 级,制程能力满足图纸要求,生产中几乎没有不良品产生. B: 1.00 ≦Cpk1.33 B 级, 制程能力基本满足图纸要求,生产中约有0.27%不良品产生,必须加 以注意,并设法维持不使其变坏. C: Cpk1.00 C 级, 制程能力不能满足图纸要求, 生产中可能有较多不良品产生, 应采 取紧急措施,全面检讨所有可能影响的因素,必要时得停止生产. 五.Cpk 管制抽样的基本原则 区 分 重要尺寸 次要尺寸 Cpk 值 管制方法 取样频率 管制方法 取样频率 1.00 以下 检验 全检 检验 全检 1.00~1.33 管制图 高 管制图 中 管制图 中 1.33~1.66 查检表 中 查检表 高 管制图 低 1.66~2.00 查检表 低 查检表 中 大于2.00 视情形需要 管制方法 取样频率 管制图 查检表 高 1--2 小时 15--30 分钟 中 4--8 小时 每小时 低 每班次 2 小时 六.CPK 数据分析. 1.数据均分布于中值两旁, Cpk 值一般大于1.33,见附图１. 2.数据离散地分布中值两旁,Cpk 值一般小于1.33,见附图２. 3.数据分布离散度小,但偏中值不远,Cpk 值大于1.33,见附图３. 4.数据分布离散度小,但偏中值较远,Cpk 值小于1.33. 见附图４. 5.数据绝大多数虽均分布于中值两旁,但个别超差,将大大降低Cpk 值,甚至 Cpk