第7章智能仪器自动校准与抗干扰技术.pptVIP

第7章 智能仪器的自动校准和抗干扰技术; 智能仪器的主要特征是以微处理器为核心进行工作，因而智能仪器具有强大的控制和数据处理功能，使测量仪器在实现自动化，改善性能，增强功能以及提高精度和可靠性方面发生了较大的变革。 智能仪器的准确度、可靠性和抗干扰能力是评价智能仪器质量优劣的重要指标。 ;学习重点; 7.1.1 误差校准方法 7.1.2 仪器的内部自动校准（理解） 7.1.3 仪器的外部自动校准（了解）;7.1.1 误差校准方法;外部校准;7.1.2 仪器内部自动校准;eos-输入失调电压； Ib1、Ib2-输入偏置电流；R1、R2-倍率电阻；R-输入平衡电阻；Ri-放大器的等效内阻；Vi-放大器的输入；Vo-放大器的输出；I、Ii I1、I2、I3-支路电流；Va、Vb-节点电压。;;用式（7.1.2）和式（7.1.3）代入式（7.1.1），并考虑到;;模拟测量通道的部件是前后级串联的。此时，怎样计算总的零漂电压和倍率呢？;问题3：如何实现零点漂移的内部自动校准？;问题4：如何实现倍率漂移的内部自动校准？;模拟通道的内部自校准原理图;问题5. 综合考虑零点漂移和倍率偏离的情况下，进行内部 自动校准？;③微机控制S3接通，断开S1、S2，设输出Dx，则;7.1.3 仪器外部自动校准(了解); 7.2.1 仪器的故障诊断（了解） 7.2.2 仪器的自检（掌握）;7.2.1 仪器的故障诊断;问题2：对待故障的策略是什么？;7.2.2 仪器的自检;问题3 ：智能仪器的自检方式有哪些？;RAM自检分两种情况：;将读出的内容Dr求反得：;2. ROM自检;ROM 地址 ROM 中的内容 0 1 1 0 1 0 0 1 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 2 0 0 1 1 1 1 0 0 3 1 1 1 1 0 0 1 1 4 1 0 0 0 0 0 0 1 5 0 0 0 1 1 1 1 0 6 1 0 1 0 1 0 1 0 7 (校验字) 1 1 1 1 1 1 1 1 (校验和) ;3.总线的自检;实现原理如图所示：;智能仪器显示器、键盘的检测往往采用与操作者合作的方式进行。检测程???的内容为：先进行一系列预定I/O的操作，然后操作者对这些I/O操作的结果进行验收，如果结果与预先的设定一致，就认为功能正常，否则，应对有关通道进行检修。 ;显示器的检测; 上述各自检项目一般应分别编成子程序，以便需要时调用。 设各段子程序的入口地址为TSTi（I = 0,1,2…）， 对应的故障代号为TNUM（0，1，2…）。编程时， 由序号通过表所示的测试指针表（TSTPT）来寻找某一项自检子程序入口，若检测有故障发生，便显示其故障代号TNUM。;含有自检的仪器操作流程;7.3 智能仪器的抗干扰技术;7.3.1 电磁干扰技术;噪声及噪声源;信噪比;形成电磁干扰的要素;智能仪器中常见的电磁干扰的来源; 空间电磁场 通过电磁波辐射窜入仪器，如雷电、无线电波等。 传输通道 各种干扰通过仪器的输入输出通道窜入，特别是长传输线受到的干扰更严重。 配电系统 如来自市电的工频干扰，各种开关、可控硅的启闭，元器件的机械振动等都会对测试过程引起不同程度的干扰。;干扰的类型; 除了从信号线引入的串模干扰外，信号源本身固有的漂移、纹波和噪声，电源变压器不良屏蔽以及稳压滤波效果不良等也会引入串模干扰。;串模抑制比;2.共模干扰;电压表的共模干扰; En就是共模干扰Ecm产生的误差。若Ecm＝100V，Rx＝10kΩ，Z1＝106Ω，则En＝1V；即使Ecm=1V，En的值也