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一 OC/T 1114 2019 表2 换挡操作系统可靠性试验环境温度要求 试验环境温度lC 阶环个数占总循环个数的百分比 80 86� 100 I� 120 2予 -30 2予 5.5 离合器操作系统可靠性 5.5 . 1 试验设备 AMT窝合器操作系统试验台架. 应祸足以下耍求: a) 试验环堎温度可询节, 温度控制误差不应超过土 s·c: b) 具备宽合器操作系统分离、接合次数计数功能; C) 能对离合器操作系统施加载荷。 5.5.2 试验程序 5. 5. 2. 1 将离合器橾作系统安装在试验台架卜 5. 5. 2. 2 对离合器操作系统进行分离 、 接合试验循环 、 应满足以下婓求: a) 循环力法:肉合器缓冲接合过程试验1次. 分离和接合试验9次. 作为1个分肉与接合试验 循环: b) 完成离合器操作系统分岛与接合循环个数:非同步器换片的AMT不应小T-2x 105 个分肉与 接合试验循环;同步器换挡的AMT不应小于IX ,os 个分离咱接合试验循环 同时试验环境 温度满足表 3耍求, 表3 离合器操作系统可靠性试验环境温度要求 试哈环埮温栈/C 役环个数占总彷环个数的百分比 80 86外 100 lY-七 120 2% 一30 2� , r
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