SOP-QR-141MSA测量系统分析作业办法.docVIP

文件编号 SOP-QR-141 页 次 PAGE 6/6 MSA测量系统分析作业办法 版 / 次 A/0 PAGE 三 阶 文 件 生效日期 2013年8月23日 文件编号 SOP-QR-141 版 / 次 A/0 MSA测量系统分析作业办法 编制人 邹晓芳 审核人 批准人 日 期 2013-8 日 期 日 期 文件修改记录 序号 修改版次 修改 页数 修改内容描述 修改人 批准人 生效日期 1 A/0 新制定 2013-8-23 1、目的： 对测量系统变差进行分析评估，以确定测量系统是否满足规定的要求，确保测量数据质量。 2、范围： 适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析管理。 3、定义： 3.1测量系统(Measurement system)：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备以及操作人员的集合，用来获得测量结果的整个过程。 3.2偏倚(Bias):指测量结果的观测平均值与基准值的差值。 3.3稳定性(Stability):指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量平均值总变差,即偏倚随时间的增量。 3.4重复性：重复性（Repeatability）是指由同一位检验员,采用同一量具,多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。 3.5再现性: 再现性(Reproductivity) 是指由不同检验员用同一量具，多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量平均值的变差。 3.6分辨率（Resolution）:测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。 3.7可视分辨率（Apparent Resolution）:测量仪器的最小增量的大小,如卡尺的可视分辨率为0. 3.8有效分辨率（Effective Resolution）:考虑整个测量系统变差时的数据等级大小。用测量系统变差的置信区间长度将制造过程变差（6δ）（或公差）划分的等级数量来表示。关于有效分辨率，在99%置信水平时其标准估计值为1.41PV/GRR。 3.9分辨力(Discrimination):对于单个读数系统,它是可视和有效分辨率中较差的。 3.10盲测:指在实际测量环境中,检验员事先不知正在对该测量系统进行分析，也不知道所测为哪一只产品的条件下,获得的测量结果。 3.11计量型与计数型测量系统:测量系统测量结果可用具体的连续的数值来表述,这样的测量系统称之为计量型测量系统; 测量系统测量结果用定性的数据来表述,如用通过或不能通过塞规的方式来描述一只圆棒直径尺寸,这样的测量系统称之为计数型测量系统。计量型测量系统和计数型测量系统的分析将用到不同的方法。 4、职责： 4.1品管部负责测量系统分析的归口管理； 4.2品管部负责每年对公司在用测量系统进行一次全面的分析； 4.3品管部、研发部负责新产品开发时测量系统分析的具体实施。 5、内容及要求： 5.1测量系统分析时机： 5.1 5.1 5.1. 5.2测量系统分析条件： 5.2 5.2 5.2 5. 5.2 5.2.5. 5.2 5. 5.2. 5.3计量型测量系统分析 5. 5. 5. 5.3.1 5.3. 5. 5. 5.3.2.1获取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值, 5.3.2.2由一位检验员,以常规方式对样品测量10次,并计算10次读数的平均值, 5. 偏倚=观测平均值--基准值 制造过程变差=6δ 偏倚%=偏倚/制造过程变差×100% 制造过程变差可从以前的过程控制图得出，或从同时进行的过程能力研究得出，也可用规格公差代替。 5. a.对测量重要特性的测量系统偏倚%10%时可接受； b.测量一般特性的测量系统10%≤偏倚%≤30%时可接受； c.偏倚%30%,拒绝接受。 5. 5. 5. 5.3.3. 5. 5. 5. y=b+ax 式中：x为基准值 y为偏倚 b为截距 a为斜率 a=[ΣXiYi-ΣXiΣYi/n]/[ ΣXi2-(ΣXi)2/n] b=(ΣYi-aΣXi)/n R2=[ΣXiYi-ΣXiΣYi/n]2/｛[ΣXi2 -(ΣXi)2/n]×[ΣYi2-(ΣYi)2/n]｝ 线性= 斜率 ×（制造过程变差） 线性%=[线性/制造过程变差] ×100% 5. 5.3. R2=1,完全相关,点散布在一条直线上； R2=0,完全不相关,X与Y的变化完全不存在任何依存关系； 0R21,不完全相关； 5.3. a、 对测量重要特性的测量系统,线性%≤5%时可接受； b、 对测量一般特性的测量系统,线性%