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集成电路测试技术 集成电路测试技术 VLSI Testing Techniques VLSI Testing Techniques 西安电子科技大学微电子学院 第0章 概述 第0章 概述 研究意义 内容安排 常用术语 1、研究意义 1、研究意义 为什么要研究测试？ – 保证质量、可靠性要求 – 测试器件和系统性能 – 提高测试效率 – 经济效益 5 VLSI TESTING TECHNIQUES 测试开销 测试开销 6 VLSI TESTING TECHNIQUES 结论 结论 传统的模拟、验证和测试方法难以全面 验证 在设计时考虑测试问题，设计易于测试 的电路 7 VLSI TESTING TECHNIQUES 2 、章节安排 2 、章节安排 Ch1 电路测试和可测性基础知识 Ch2 模拟仿真在电路测试中的作用 Ch3 组合电路测试生成 Ch4 时序电路测试生成 Ch5 可测性设计概念 Ch6 扫描路径、电平敏化设计 Ch7 伪随机测试 Ch8 测试系统组成 8 VLSI TESTING TECHNIQUES 3、常用术语 3、常用术语 CAT/ATE 测试类型 测试 测试 错误/故障 测试效率 测试生成 可测性 模拟 测试经济学 仿真 9 VLSI TESTING TECHNIQUES 测试经济学 测试经济学 IC测试 系统测试 成品测试 在高可靠性，开发时间短等条件下尽量降低测试成本 10 VLSI TESTING TECHNIQUES 成品率 G Y G B + 2 [( AD ) ] Y e 1AD− / 缺陷等级 ( ) DL Y T 1 1− − ≈ TT (−In Y( )) 11 VLSI TESTING TECHNIQUES 第1章 电路分析基础 第1章 电路分析基础 物理缺陷及其电路级描述 测试生成 测试与设计环节的关系 测试实施的设计